光伏組件不及預(yù)期如何判斷隱裂問題
光伏電站安裝前的電池組件一般需要兩個(gè)流程的el檢測(cè)檢查
el檢測(cè)就相當(dāng)于光伏組件X片測(cè)試，最近黃老板家里安裝了光伏發(fā)電，但是發(fā)電效果沒有達(dá)到預(yù)期，找到光伏檢測(cè)公司做了el檢測(cè)隱裂問題，發(fā)現(xiàn)部分組件有隱裂問題導(dǎo)致發(fā)電不正常。到底光伏隱裂是什么鬼呢？
下面介紹下相關(guān)技術(shù)
1》el檢測(cè)是光伏電池組件出廠前檢測(cè)，目前光伏組件產(chǎn)線基本在裝框后都有一次組件EL檢測(cè)，此檢測(cè)過程使用線上全自動(dòng)EL檢測(cè)儀進(jìn)行測(cè)試，直接與流水線對(duì)接進(jìn)行全檢，以確保組件完好沒有任何內(nèi)部隱裂，或真的其不同內(nèi)部缺陷情況進(jìn)行等級(jí)劃分再發(fā)送給電站。此過程中的組件質(zhì)檢全部由組件廠商負(fù)責(zé)，其必須要有電性能跟EL的全部檢測(cè)報(bào)告。
2》是電站現(xiàn)場(chǎng)安裝前的檢測(cè)，在電站現(xiàn)場(chǎng)收到組件后，必須進(jìn)行必要的組件EL內(nèi)部缺陷檢測(cè)， 電性能檢測(cè)并不是很標(biāo)準(zhǔn)，有的具有斷柵，低效率片的組件，對(duì)其電性能檢測(cè)并沒有任何影響，但是此組件安裝上支架后比如只有較短的發(fā)電壽命，且拉低整條串聯(lián) 方陣發(fā)電效率。故電站現(xiàn)場(chǎng)安裝前EL檢測(cè)非常必要，其能明確廠家組件是否具有內(nèi)部缺陷，或者在運(yùn)輸過程中給組件造成的內(nèi)部隱裂等，也可以在次過程中檢測(cè)出 來。此過程的EL檢測(cè)設(shè)備是嘉興吉光提供的吉?jiǎng)?b>戶外便攜式EL檢測(cè)儀，此設(shè)備特點(diǎn)為方便攜帶，客戶可直接帶到廠商，倉(cāng)庫(kù)，電站現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行組件的EL檢測(cè)儀，具體操作流程非常簡(jiǎn)單；
倉(cāng)庫(kù)內(nèi)或者室內(nèi)檢測(cè)：白天，如無強(qiáng)烈太陽(yáng)光照射，可直接將紅外相機(jī)放置在三腳架上，對(duì)著組件進(jìn)行內(nèi)部缺陷的檢測(cè)。如有強(qiáng)烈太陽(yáng)能光照射則需要搭建防簡(jiǎn)易帳篷組件紅外暗室，在暗室內(nèi) 將組件抬進(jìn)去EL檢測(cè)。 夜晚，也是直接使用紅外相機(jī)防止三腳架上進(jìn)行檢測(cè)，無需暗室（嘉興賽善提供的吉?jiǎng)?span lang="EN-US">EL檢測(cè)儀不受月光的干擾）。此相機(jī)已經(jīng)經(jīng)過濾光處理，月光，燈光對(duì)于測(cè)試無任何影響。檢測(cè)有問題的組件取出來退換。
電站現(xiàn)場(chǎng)室外戶外檢測(cè)：白天，陽(yáng)光下檢測(cè)需搭建防紅外暗室?guī)づ瘢Х沤M件進(jìn)暗室進(jìn)行EL內(nèi)部缺陷檢測(cè)。夜晚，組件檢測(cè)直接使用紅外相機(jī)三腳架進(jìn)行檢測(cè)，設(shè)備自帶移動(dòng)電源以便戶外上電使用。此過程中檢測(cè)問題的組件可直接進(jìn)行支架上安裝。
來料檢測(cè)完好的組件進(jìn)行支架安裝，在電站組件全部安裝后，還需對(duì)組件進(jìn)行最終的EL檢測(cè)，以防止在安裝過程中由于施工問題使得組件出現(xiàn)內(nèi)部缺陷問 題，此過程中可直接搭建三腳架進(jìn)行單個(gè)或者多個(gè)方陣組件的檢測(cè)，嘉興吉光提供的吉?jiǎng)荼銛y式EL檢測(cè)儀自動(dòng)對(duì)焦功能使得此過程中檢測(cè)速度非?？焖佟?/span>
在完成安裝后檢測(cè)，其光伏電站的檢測(cè)全部完成，不同環(huán)節(jié)的檢測(cè)，也可以對(duì)于組件在哪塊環(huán)節(jié)出現(xiàn)問題責(zé)任有明確查詢，將沒有任何推諉的可能性。且無任何缺陷的組件才是最大功率與最長(zhǎng)工作壽命的保障。
EL測(cè)試常見缺陷及分析
2.1破片
組件中的破片多出現(xiàn)在組件封裝過程的焊接和層壓工序，在EL測(cè)試圖中表現(xiàn)為電池片中有黑塊，因?yàn)殡姵仄屏押笤陔姵仄屏巡糠譀]有電流注入，從而導(dǎo)致該部分在EL測(cè)試中不發(fā)光。
2.2隱裂
晶 體硅太陽(yáng)電池所采用的硅材料本身易碎，因此在電池片生產(chǎn)和組件封裝過程中很容易產(chǎn)生裂片。裂片分兩種一種是顯裂，另一種是隱裂。顯裂是肉眼可以直接看到 的，在組件生產(chǎn)過程中的分選工序就可以剔除；而隱裂是肉眼無法直接看到的，并且在組件的制作過程中更容易產(chǎn)生破片等問題。由于單晶硅的解離面具有一定的規(guī) 則，通過EL測(cè)試圖可以清晰地看到單晶硅電池片的隱裂紋一般是沿著電池片對(duì)角線方向的“x”狀圖形；多晶硅電池片由于晶界的影響有時(shí)很難區(qū)分是多晶硅的晶 界還是電池片中的隱裂紋。
2.3斷柵
電池片的斷柵主要是由于電池片本身柵線印刷不良或電池片不規(guī)范焊接造成的。從EL測(cè)試圖中表現(xiàn)為沿電池片主柵線的暗線，這是因?yàn)殡姵仄母睎啪€斷掉 后，EL測(cè)試過程中從電池片主柵線上注入的電流在斷柵附近處的電流密度很小甚至沒有，從而導(dǎo)致電池片的斷柵處發(fā)光強(qiáng)度較弱或不發(fā)光。
2.4燒結(jié)缺
在電池片生產(chǎn)過程中，燒結(jié)工序工藝參數(shù)不佳或燒結(jié)設(shè)備存在缺陷時(shí)，生產(chǎn)出來的電池片在EL測(cè)試過程中會(huì)顯示為大面積的履帶印。實(shí)際生產(chǎn)中通過有針對(duì) 性的工裝改造就可以有效的消除履帶印的問題。例如采用頂針式履帶生產(chǎn)出來的電池片在EL測(cè)試圖只能看到若干個(gè)黑點(diǎn)而沒有大面積的履帶印。
2.5黑芯片
黑芯片在EL測(cè)試圖中我們可以清晰的看到從電池片中心到邊緣逐漸變亮的同心圓，它們產(chǎn)生于硅材料生產(chǎn)階段，與硅棒制作過程中氧的溶解度和分凝系數(shù)大 有關(guān)系。此種材料缺陷勢(shì)必導(dǎo)致晶體硅電池片的少數(shù)載流子濃度降低，從而導(dǎo)致電池片中有此類缺陷的部分在EL測(cè)試過程中表現(xiàn)為發(fā)光強(qiáng)度較弱或不發(fā)光。
2.6電池片混擋
一塊組件的EL測(cè)試圖中有部分電池片發(fā)光強(qiáng)度與該組件中的大部分電池片相比較弱，這是由于這部分電池片的電流或電壓分檔與該組件中大部分電池片的電流或電壓分檔不一致造成的。
2.7電池片電阻不均勻
EL測(cè)試單個(gè)電池片表面發(fā)光強(qiáng)度不均勻，這是由于電池片電阻不均勻造成的, 較暗區(qū)域一般串聯(lián)電阻較大。這種缺陷也能反應(yīng)電池片少子壽命的分布狀況，缺陷部位少子躍遷機(jī)率降低，在EL測(cè)試過程中表現(xiàn)為發(fā)光強(qiáng)度較弱。
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便攜式光伏組件EL測(cè)試儀
